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Mitigation of Interface Trap-Induced Bump Effects in p-Type MOS Capacitor
Francisco Emmanuel Eleuterio De Loredo  1, *, @  , Jean Leveque  1, @  , Stéphane Rael  1, @  , Ngoc Duy Nguyen  2, @  , Benoit Vanderheyden  3, @  
1 : Groupe de Recherche en Électrotechnique et Electronique de Nancy (GREEN)
Groupe de Recherche en Électrotechnique et Electronique de Nancy (GREEN)
2 : SPIN lab - Université de Liège
3 : Electronics Group - Université de Liège
* : Corresponding author
Subject : : Abstract
Topics : Electrical Energy Efficiency
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